高功率激光集成式分析仪 BeamWatch Integrated 在BeamWatch 基础上，在特定位置集成了功率探头，可以实时在线测量激光的焦点分布和功率。BeamWatch Integrated 分为150/ 500连个型号，功率探头距离焦点的距离分别为150mm和175mm。

增材制造专用激光焦点分析系统 BeamWatch AM 是一款集成的激光测量系统，用于测量激光增材制造系统的关键激光束参数。包括腰( 焦点) 宽度和位置、焦点变化、重心、M2、瑞利长度、倾角等。

增材制造专用激光分析系统 集成CCD 光束分析仪直接探测高功率激光的光斑，以及一台功率计用于实时监测测量激光的功率。特殊的分束系统使其可以直接用于高功率激光，极小部分功率被分配给光束分析仪进行光斑分析

非接触式大功率激光焦点分析仪 OPHIR*的BeamWatch 非接触式轮廓分析仪通过测量瑞利散射，精确捕获和分析波长范围为980nm - 1080nm 的高功率工业激光。

激光全自动M2分析仪 BeamSquared 包含自动衰减器、束腰生成镜、反射镜和相机四大部分。精密准直的双程直线扫描光路提供在较短空间内的长行程快速扫描，配合不同的透镜、探测器覆盖宽范围的波段。

狭缝扫描光束分析仪NanoScan 2， 源自2010 年加入OPHIR 集团的PHOTON INC。PHOTON INC 自1984 年开始研发生产扫描式光束分析仪，在光通讯、LD/LED 测试等领域享有盛名。扫描式与相机式光斑分析仪的互补联合使得OPHIR可提供完备的光束分析解决方案